Поддержка микросхемами Эльбрус периферийного сканирования и вебинары по этому поводу

[Alexey_JTAG]

Добрый день, коллеги. На прошедшем Elbrus Tech Day я докладывал про поддержку Эльбрусами технологии периферийного сканирования для тестирования плат, куда они устанавливаются. Возможно разработчикам и производителям техники на Эльбрусах будет интересно, что сейчас идет серия бесплатных вебинаров по этой технологии. Она действительно работает и у CPU Elbrus и у КПИ.

Впереди еще 3 вебинара по JTAG-технологиям.

Средства автоматической генерации тестовых векторов JTAG (Регистрация (https://attendee.gotowebinar.com/regist ... 0465881611)) 25 февраля 15:00
На вебинаре мы поговорим о подходах к созданию тестов периферийного сканирования. Будет несколько шире по охвату, чем в аналогичном предыдущем вебинаре.
1. Средства ATPG (Automatic Test Pattern Generation) против скриптовых тестов. Достоинства и недостатки подходов.
2. Демонстрация тестов на тренировочной плате с использованием новой версии JTAG ProVision.
3. Что нового в ProVision JT2020?
4. Что такое JTAG Functional Test?
5. JTAG CoreCommander + ATPG

Тестопригодность вашей разработки. (Регистрация (https://attendee.gotowebinar.com/regist ... 5102853387)) 11 марта 15:00
Тестопригодность вашей разработки.
Тестопригодная разработка любого электронного продукта позволяет сэкономить на многом: на трудочасах разработчиков SW и HW и инженеров по тестированию и ремонту, на оборудовании и капиталовложениях. На данном вебинаре мы рассмотрим:

1. Как стратегия DFT (Design-For-Testability) позволяет сокращать затраты на всем жизненном цикле изделия?
2. Какие требования к тестопригодности у разных методов структурного тестирования? Нужно и это знать.
3. Какие правила DFT у JTAG-технологий?
4. Есть ли программные инструменты для определения тестопригодности?
5. Построение тестопригодной многоплатной системы.
6. Другие вопросы.

Построение эффективной тестовой стратегии для цифровых изделий (Регистрация (https://attendee.gotowebinar.com/regist ... 2062827275)) 25 марта 15:00

Как правильно построить эффективную и недорогую систему тестирования на производстве? Какой метод выбрать или же какие совместить между собой в одной установке? На данном вебинаре мы рассмотрим различные аспекты применения периферийного сканирования на серийном производстве. Тестовая система может быть отдельной, или интегрированной в другие. При этом возникают вопросы, связанные с аппаратной и программной интеграцией. Время тестирования и программирования изделий также может быть на крупном производстве немаловажным фактором: мы расскажем как управлять этим параметром.